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高温四探针测试仪结构组成及应用范围概述

 发布时间:2021-01-25 点击量:29
   高温四探针测试仪采用四探针双电测量方法,适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料在高温、真空及气氛条件下测量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能。
  是为了满足材料在高温环境下的阻抗特性测量需求而设计的。它由硬件设备和测量软件组成,包括高温测试平台、高温四探针夹具、电阻率测试仪和高温电阻率测量系统软件四个组成部分。
  测试应用范围
  高温四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。根据不同材料特性需要,配有多款测试探头:
  1)高耐磨碳化钨探针探头,测量硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻;
  2)球形镀金铜合金探针探头,测量柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜(ITO膜)或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻;
  3)配合四端子测试夹具,测量电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻;
  4)高温四探针测试仪专用探头可测试电池极片等箔上涂层电阻率/方阻。

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